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MEMS Reliability - Jeong-Yeol Yoon
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MEMS Reliability - nuovo livro

ISBN: 9781441960184

The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep und… mais…

No. 9781441960184. Custos de envio:Instock, Despatched same working day before 3pm, zzgl. Versandkosten., mais custos de envio
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MEMS Reliability - Allyson L. Hartzell; Mark G. da Silva; Herbert R. Shea
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Allyson L. Hartzell; Mark G. da Silva; Herbert R. Shea:

MEMS Reliability - nuovo livro

2010, ISBN: 9781441960184

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MEMS Reliability
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MEMS Reliability - nuovo livro

ISBN: 9781441960184

The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep und… mais…

Nr. 978-1-4419-6018-4. Custos de envio:Worldwide free shipping, , DE. (EUR 0.00)
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MEMS Reliability - Allyson L. Hartzell/ Herbert R. Shea/ Mark G. Da Silva
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*MEMS Reliability* / pdf eBook für 117.49 € / Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Technik Medien > Bücher nein eBook als pdf eBooks > Sachthemen & Ratgeber > Technik, Springer… mais…

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Dados bibliográficos do melhor livro correspondente

Pormenores referentes ao livro
MEMS Reliability
Autor:
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Número ISBN:

9781441960184

Dados detalhados do livro - MEMS Reliability


EAN (ISBN-13): 9781441960184
ISBN (ISBN-10): 144196018X
Ano de publicação: 2010
Editor/Editora: Springer US
291 Páginas
Língua: eng/Englisch

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Número ISBN/EAN: 9781441960184

Número ISBN - Ortografia alternativa:
1-4419-6018-X, 978-1-4419-6018-4
Ortografia alternativa e termos de pesquisa relacionados:
Autor do livro: silva, erb herbert, hartz, shea mark, herbert hart, hartzell
Título do livro: mems reliability

Dados da editora

Autor: Allyson L. Hartzell
Título: MEMS Reference Shelf; MEMS Reliability
Editora: Springer; Springer US
291 Páginas
Ano de publicação: 2010-11-02
New York; NY; US
Língua: Inglês
121,00 € (DE)

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik; Verstehen; MEMS; MEMS reliability; design for reliability; design strategies; failure analysis; failure mechanisms; packaging and testing; process development and characterization; C; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Engineering; BC

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