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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Livro de bolso

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Dados bibliográficos do melhor livro correspondente

Pormenores referentes ao livro
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)
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3642077854

Dados detalhados do livro - Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)


ISBN (ISBN-10): 3642077854 (ISBN-13: 9783642077852)
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Número ISBN/EAN: 3642077854

Número ISBN - Ortografia alternativa:
3-642-07785-4
Ortografia alternativa e termos de pesquisa relacionados:
Autor do livro: martin wilhelm
Título do livro: thermography

Dados da editora

Autor: Otwin Breitenstein; Wilhelm Warta; Martin Langenkamp
Título: Springer Series in Advanced Microelectronics; Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Editora: Springer Berlin
193 Páginas
Ano de publicação: 2011-03-06
Língua: Inglês
128,35 € (DE)
132,00 € (AT)
186,50 CHF (CH)
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BC; PB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik, Nachrichtentechnik; Failure analysis; Solar cell characterization; Trap density mapping; Shunt imaging; Lifetime mapping; Research

Introduction.- Physical and Technical Basics.- Experimental Technique.- Theory.- Measurement Strategies.- Typical Applications.- Summary and Outlook.- References.- Appendices.- Index.
This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. It provides the necessary knowledge on the scientific basics and application of this method. It appeals to electrical engineers, researchers and advanced students.
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